呵呵，回家路上真累啊，抱歉，来迟鸟~~

A/D与D/A测试，主要有静态测试和动态测试两种，下面就对它们分别说说。

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DAC 静态参数指标
• 分辨率(Resolution)是指DAC 输出端所能变化的最小值。
• 满量程范围(FSR), 是指DAC 输出信号幅度的最大范围，不同的DAC 有不同的满量程范
围。该范围可以是正和/或负电流，正和/或负电压。
• 最小有效位(LSB)大小是指输入代码变化最小数值时输出端模拟量的变化。
• 差分非线性度(DNL)用于测量小信号非线性误差。计算方法：本输入代码和其前一输入
代码之间模拟量的变化减去1 个最小有效位(LSB)大小。
• 单调性是指如果增加输入代码其输出模拟量也会保持相应的增加或反之的特性。该特性
对使用在反馈环电路之中的DAC 非常重要，它能保证反馈环不会被死锁在两个输入代码之
间。
• 整体非线性度(INL)是指对一个输入代码所有非线性度的累计。这一参数可以通过测量该
代码相应的输出模拟量与起终点间直线之间的偏差来完成。
• 偏差(offset)是指DAC 的输入代码为0 时DAC 输出模拟量与理想输出的偏差。
• 增益误差(gain error)是指DAC 的输入代码为最大时DAC 实际输出模拟量与理想输出的
偏差。
• 精度(accuracy)是指DAC 的输出与理想情况的偏差，包括了所有以上的这些错误，有时
用百分比来表示。一般情况不直接测量该参数，通过静态错误的计算而得出其结果。

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ADC 静态参数规格
• 满量程范围(FSR)的定义与DAC 的一样。
• 偏差(offset error)是指保证输出代码为0 时的理想输入模拟量与实际输入模拟量的偏
差。计算方法：输出第一个代码发生变化时ADC 的实际输入模拟值减去1/2 个最小有效位(L
SB)大小再减去理想的0 代码输入模拟值。
• ADC 的增益误差(gain error)是指满量程输入时输出代码的误差。计算方法：满量程输出
代码加上1 1/2 最小有效位(LSB)时输入值与满量程输出代码时输入之间的差值，再加上偏
差(offset error)。
• 最小有效位(LSB)大小是通过测量最小的和最大的转换点后计算得到的。理想情况下，模
拟输入变化一个LSB 值，将引起输出端变化一个代码。
• 差分非线性度(DNL)用于测量小信号非线性误差。计算方法：两个转换点之间的模拟输
入量之差减去一个最小有效位(LSB)值。
• 无丢码(no missing code)是指该ADC 在实际情况下能产生多少位输出。一个14 位的A
DC 可能被说明为”无丢码位数为12(no missing codes to 12 bits)”，这就表明此ADC 在输
入变化时，其输出端的低两位代码不会发生变化，而只是其它的高12 位代码能发生变化。
• 整体非线性度(INL)是指一个指定代码中点实际输入和理想传输函数线上输入之间的偏
差。
• ADC 的测量精度概念与DAC 的相似。

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DAC 动态参数指标
• 信噪比( SNR)是通过给DAC 施加一个满量程的正弦波数字代码再分析其输出波形频率
特性而得到的。DAC 的输出经过滤波滤除基波分量以及所有谐波分量后剩下部分就是噪声。
SNR 就是基波分量与所有噪声分量之和的比值。
• 信号与噪声谐波比(SNDR 或SINAD)跟SNR 的计算方法一样，只是谐波分量也计算在噪
声内。
• 全谐波失真(THD)和SINAD 相似，但它只包含谐波分量不包括噪声。在这个比值计算中，
基波分量是分母而不是分子。DAC 的输入为一个正弦波的数字代码；其输出是阶梯状的正
弦波输出，需要通过一个滤波器进行平滑处理。经滤波后的输出波形再在频域进行分析，寻
找与基波频率相关的谐波分量。
• 互调失真(IM)用于测试由两种频率互调而产生的非谐波分量的失真。这种失真是由待测
芯片的非线性度而引起的。测试该参数时：先给待测DAC 输入两个频率分量的波形数字代
码，再计算输出波形中的两个频率之和及之差信号分量。
• 最大转换速率(maximum conversion rates)是芯片规格书指标之一。当DAC 的输入变化
时，其输出端需要一段时间才能得到稳定的相应输出值。最长的稳定时间就是最大转换速率。
• 建立时间(settling)是指输出值达到并稳定在预定值的+-1/2LSB 范围或某些别的规定范
围之内所需的时间。

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ADC 动态参数指标
• 信噪比(SNR)的概念与运算放大器的概念一样。和THD 测量类似，给ADC 输入端加一个
纯正弦波，通过ADC 芯片的采样之后，输出一组数字代码。再用数字信号处理算法提取其
中的SNR 信息。SNR 的单位是dB。
• 总谐波失真(THD)的概念与运算放大器的概念一样，但他们的测试方法不一样。给ADC
输入一个纯正弦波，输出是一组由正弦波采样而来的数字代码，我们再把这些代码与理想正
弦波特性进行比较。使用数字信号处理算法提取其中的总谐波失真信息。单位是dB。
• 信号与噪声谐波比( SNDR 或SINAD)是基波分量与噪声及谐波失真分量总和的比值，单
位是dB。
• 互调失真(IM)用于测试由两种频率互调而产生的非谐波分量的失真。这种失真是由待测
芯片的非线性度而引起的。测试该参数时：先给待测ADC 输入两个频率分量模拟波形，再
计算输出数字代码中的两个频率之和及之差信号分量。
• 动态范围(Dynamic range)是指ADC 输入信号幅度的最大值与最小值的比值，单位是dB.
理想ADC 的动态范围是20log(2bits-1)。
• 无杂波动态范围( SFDR)是指基波或载玻分量与其它非基波和载波的最大杂波的频率分
量(可以是谐波或失真波)的比值，单位是dB。

ADC envelope test

把ADC input tone (Fin)設定在接近Fs/2 (采樣率的一半, 即nyquist頻寬), 會使ADC input 采樣的電平劇烈變化 (slew at full scale), 此時奇數點之間的電平差其實很小 (偶數點亦同), 但是相鄰兩點間的電平差卻很大, 測試上又稱為ADC envelope test, 而在此測試中被引進來的 "beat frequency" (拍頻) 會被視為noise, 使SNR下降.

也就是說, 若ADC內front end的PGA or buffer Amp slew rate不足, 此缺陷便很容易在此測試中被突顯出來.

就系統面而言, 拉高ADC的AVDD有機會讓此現象減輕, 但是反向操作將AVDD降低便是提高測試門檻, 預留高溫環境的guard band了. (ADC PAD_VDD反而要調低, 除了降EMI外也可拉低系統noise floor).